X射線熒光光譜儀是一種常用的分析儀器，利用X射線的特性，通過測量樣品中發(fā)射的熒光X射線能譜，分析樣品的元素成分和結(jié)構(gòu)信息。基于X射線的特性進(jìn)行分析。當(dāng)X射線照射樣品時(shí)，樣品中的原子會吸收X射線的能量，激發(fā)內(nèi)層電子躍遷至高能級，形成空位。隨后，樣品中的其他電子會填補(bǔ)這些空位，釋放出熒光X射線。X射線熒光光譜儀通過測量這些熒光X射線的能譜，可以確定樣品中的元素成分和結(jié)構(gòu)信息。以下是對X射線熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行分析：1、非破壞性分析：是一種非破壞性分析方法，不需要對樣品進(jìn)行物理或化...

新品優(yōu)惠來啦！馬爾文帕納科生命科學(xué)類儀器，購買差式掃描熒光儀SUPR-DSF，贈送Zetasizer納米粒度電位儀！購買分子互作或穩(wěn)定性分析儀器套裝，享最高優(yōu)惠200萬元！更多優(yōu)惠，掃描下方二維碼了解詳情！關(guān)于MalvernPanalytical馬爾文帕納科由英國馬爾文儀器（Malvern）和荷蘭帕納科（PANalytical）合并而成，屬于思百吉集團(tuán)的主要平臺公司，是材料表征領(lǐng)域的專家及多項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù)的發(fā)明者。公司擁有在業(yè)內(nèi)享有盛名的顆粒表征、分子結(jié)構(gòu)、微量熱和X射線分析技術(shù)...

納米粒度電位儀是一種用于測量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度，是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過測量顆粒在電場中的運(yùn)動速度和方向，來計(jì)算顆粒表面電位的大小和符號，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機(jī)制。基于電動力學(xué)原理進(jìn)行測量。當(dāng)納米顆粒懸浮在液體中時(shí)，其表面帶有電荷。通過測量納米顆粒在電場中的運(yùn)動速度來推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應(yīng)而具有較快的運(yùn)動速度，而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運(yùn)動速度。通過分析納米...

-新品發(fā)布會-FORJ火蠑-高精度高通量熔樣機(jī)高效、可靠、0污染六項(xiàng)全新z利技術(shù)為熔融制樣用戶帶來全新體驗(yàn)，樣本制備更高效、更可靠，且杜絕批次間污染及環(huán)境污染，為高精度元素分析打下堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。發(fā)布會日期：2023年6月20日（周二）報(bào)告時(shí)間：15:00-16:00發(fā)布會類型：網(wǎng)絡(luò)直播，需提前掃碼注冊01歷史沿革加拿大Claisse公司（以發(fā)明熔融技術(shù)的FernandClaisse博士名字命名，1976年成立于加拿大魁北克），在熔融前處理這個極其細(xì)分的領(lǐng)域具有無可置疑的地位。其...

X衍射儀是一種常見的材料分析儀器，主要用于分析晶體結(jié)構(gòu)和物質(zhì)成分，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域。基本原理是利用X射線與物質(zhì)發(fā)生衍射現(xiàn)象，通過測量衍射圖案來分析物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)和成分。通常由X射線發(fā)生器、樣品支架、衍射儀和探測器等部分組成。X射線發(fā)生器通過電子束激發(fā)金屬靶材產(chǎn)生X射線，樣品支架則用于支撐樣品，衍射儀則用于測量衍射圖案，探測器則用于檢測衍射信號。在使用X衍射儀時(shí)，需要注意安全操作。首先，需要穿戴好安全防護(hù)用品，如手套、護(hù)目鏡等。其次，在操作前需要檢查設(shè)備的...