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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力,進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當一束X射線照射到晶體物質上時,由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互...
本文摘要PLSR偏最小二乘回歸(PartialLeastSquaresRegression)是一種常用于處理多重共線性數據的統計建模方法。用于XRD定量分析中,相較于其他幾種XRD定量分析方法如標準曲線法(Calibration)和Rietveld擬合法,PLSR法具有其獨特的優點和應用場景。本文將介紹PLSR用于藥物有效成分(API)的定量分析。01丨XRD定量方法簡介PLSR法相較與標準曲線法,具有能夠分析全譜,應對復雜混合物譜圖以及能夠分析無定形相如粉煤灰等優勢。同時,...
激光噴霧粒度儀是一種用于測量和分析噴霧、氣霧劑、粉霧劑等微小顆粒尺寸及其分布的精密儀器,在多個領域發揮著重要作用。基于激光散射原理實現顆粒動態分析。當激光束通過噴霧顆粒時,顆粒對入射光產生散射作用,散射光強度及角度分布與顆粒粒徑直接相關。大顆粒散射光角度較小且信號強,小顆粒散射光角度較大且信號弱。通過測量散射光的角度分布與強度,結合Mie理論或Fraunhofer衍射模型(適用于5μm顆粒),反算出顆粒粒徑分布。例如,夫瑯和費衍射模型通過平行光路設計優化大顆粒測量精度。激光噴...
上文中我們介紹了一些針對落地式XRD的用戶日常儀器檢查維護技巧,主要集中于儀器清潔和外設日檢,本文將向大家繼續介紹XRD儀器其他部位的日檢及周檢技巧。日檢4:檢查光管打火XRD光管打火不僅會直接損害光管硬件,還可能通過影響X射線穩定性和儀器精度,導致分析結果偏差。日常使用中需嚴格遵循操作規程,定期維護真空系統和冷卻系統,并每日在軟件中檢查光管打火情況,以降低頻繁打火的風險并延長儀器壽命。在DataCollector中點擊Systemmaintenance,找到Tubecoun...
粉末衍射儀是一種基于X射線衍射技術的分析儀器,主要用于晶體物質的定性和定量分析以及物相結構研究。其工作原理是當一束X射線照射到晶體樣品上時,由于晶體內部原子周期性排列,X射線會發生衍射,不同晶面間距的原子層會對X射線產生特定角度的衍射增強,形成衍射圖譜。通過分析衍射圖譜,可以獲取晶體的晶格參數、結晶度等信息。粉末衍射儀的核心部件包括X射線光源、測角儀和探測器。現代粉末衍射儀技術先進,測角儀角度精度可達0.0001°,測角半徑最大超過280mm,能夠精確測量衍射峰的位置。探測器...
納米粒度電位儀是一種用于測量納米及亞微米級顆粒粒徑、Zeta電位等參數的分析儀器,在化學、材料科學、生物醫藥等領域應用廣泛。該儀器主要基于動態光散射(DLS)、電泳光散射(ELS)和靜態光散射(SLS)技術工作。動態光散射通過檢測顆粒布朗運動速度計算粒徑分布;電泳光散射測量顆粒在外加電場中的遷移率,轉化為Zeta電位值;靜態光散射則利用散射光強直接測定高分子物質的絕對分子量及第二維利系數。其粒徑檢測范圍通常覆蓋0.3nm至10μm,支持低至12μL的微量樣品檢測,并具備自動化...