近日，第十八屆藥機(jī)展（PMEC2025）在上海新國際博覽中心落下帷幕，馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會所展示的顆粒、粉體等先進(jìn)表征技術(shù)備受業(yè)內(nèi)人士關(guān)注。稍顯遺憾的是很多行業(yè)客戶沒有辦法到現(xiàn)場參觀交流，且由于展位面積有限，更多產(chǎn)品和方案沒有辦法現(xiàn)場展示。為了讓大家更多地了解馬爾文帕納科和麥克應(yīng)用于醫(yī)藥行業(yè)的產(chǎn)品和解決方案，本文將整理摘錄完整的醫(yī)藥行業(yè)方案，并在文中附上馬爾文帕納科和麥克默瑞提克制藥行業(yè)產(chǎn)品手冊，您可點(diǎn)擊下載了解詳情。儀器設(shè)備和檢測技術(shù)貫穿醫(yī)藥產(chǎn)業(yè)鏈的研發(fā)、生...

針對半導(dǎo)體行業(yè)，馬爾文帕納科最新推出的高速晶向定位系列解決方案，可實(shí)現(xiàn)從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質(zhì)量檢查，覆蓋從晶棒-鑄錠-切片和晶圓制程的全部應(yīng)用。利用XRD分析技術(shù)在晶圓生產(chǎn)的全部流程中，提供簡單、快速、高精度的晶體定向測量，大大提高產(chǎn)品良率。小巧多工的DDCOM和SDCOM系列能夠在不影響精度的情況下高速完成測量，Omega/ThetaXRD系列在晶格測定方面可提供超高的測量精度和速度，WaferXRD系列利用晶圓端控制的高級分揀選項(xiàng)提供高通量篩選，XRD-OE...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的高精度物理性能測試儀器，主要用于測量納米顆粒的粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)信息。該儀器通過激光照射納米顆粒懸浮液，利用高分辨率顯微鏡捕捉顆粒的布朗運(yùn)動軌跡，并結(jié)合專用軟件分析粒徑分布。其核心在于通過追蹤單個(gè)顆粒的隨機(jī)運(yùn)動，結(jié)合斯托克斯-愛因斯坦方程，推算出顆粒的流體力學(xué)半徑，實(shí)現(xiàn)高精度測量。部分儀器還集成了微電泳技術(shù)，可同步測定Zeta電位，反映顆粒表面電荷特性。為確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，納米顆粒跟蹤分析儀...

本文摘要SiC端面傾角度數(shù)會影響晶體生長動力學(xué)、界面特性和器件的電場分布，決定了SiC功率器件的性能，傾角控制精度已從“工藝參數(shù)”升級為“核心競爭力”，本文將介紹4°傾角及其方向的重要性，以及馬爾文帕納科高精度晶向定位儀Omega/theta如何幫助SiC襯底量產(chǎn)保持高的傾角控制技術(shù)。01丨碳化硅的生長模式無論是PVT還是HTCVD生長碳化硅單晶，都涉及到了氣固相變。所以，這個(gè)生長具有三種模式：島狀生長（Volmer-Weber，VW）、層狀生長（Frankvander-Me...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。以下是X射線衍射儀的安裝...