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x射線衍射操作實驗樣品制備要求如下：1.金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面，面積不小于15x20毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。2.對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常。因此要求測試時合理選擇相應的方向平面。3.對于測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單粗磨，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。4.粉末樣品要求磨成－320目的粒度，約40微米。粒度粗大衍射強度底，峰形不好，分辨率低。要了...

xrf分析儀可分析土壤中的重金屬元素，以下是具體介紹：土壤重金屬污染，是指由于人類活動將重金屬帶入到土壤中，致使土壤中重金屬元素的含量超過背景值，并可能造成現(xiàn)存的或潛在的土壤質量退化，生態(tài)與環(huán)境惡化的現(xiàn)象。根據(jù)國土資源部的調查數(shù)據(jù)，全國耕種土地面積的10%以上已受重金屬污染，約有1.5億畝，污水灌溉污染耕地3250萬畝，固體廢棄物堆存占地和毀田200萬畝，其中多數(shù)集中在經(jīng)濟較發(fā)達地區(qū)。經(jīng)我國30萬公頃基本農(nóng)田保護區(qū)土壤有害重金屬抽樣檢測，有3.6萬公頃土壤重金屬超標，超標率達...

一、X-熒光物質是由原子組成的，每個原子都有一個原子核，原子核周圍有若干電子繞其飛行。不同元素由于原子核所含質子不同，圍繞其飛行的電子層數(shù)、每層電子的數(shù)目、飛行軌道的形狀、軌道半徑都不一樣，形成了原子核外不同的電子能級。在受到外力作用時，例如用X-光子源照射，打掉其內層軌道上飛行的電子，這時該電子騰出后所形成的空穴，由于原子核引力的作用，需要從其較外電子層上吸引一個電子來補充，這時原子處于激發(fā)態(tài)，其相鄰電子層上電子補充到內層空穴后，本身產(chǎn)生的空穴由其外層上電子再補充，直至zu...

X射線熒光光譜分析要進行定量分析必須測量特征x射線的強度，找出濃度與強度的關系，然后進行定量分析。測量x射線強度時，原則上應當測量分析線下的積分強度，但在波長色散型X射線熒光光譜儀上，晶體一次只能使一種波長的x射線發(fā)生衍射而進入探測器。因此測量分析線峰下的積分強度很不方便，而且很費時間，然而位于zui大強度的2θ位置上的峰值強度可以代表譜線的積分強度，這樣測量就很方便。測量的方法有三種：1、定時計數(shù)法：在預定時間T內，記錄x射線的光子數(shù)N，強度為I=N/T。定時器和計數(shù)器同時...

雖然光波色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀與能量色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀同屬于X射線熒光分析儀，它產(chǎn)生信號的方法相同，zui后得到的波譜也極為相似，單由于采集數(shù)據(jù)的方式不同，WD-XRF（波譜）與WD-XRF(能譜)在原理和儀器結構上有所不同，功能也有區(qū)別。一、原理區(qū)別X射線熒光光譜法，是用X射線管發(fā)出的初級線束輻照樣品，激發(fā)各化學元素發(fā)出二次譜線（X-熒光）。波長色散型熒光光儀（WD-XRF）是用分光近體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X射線波長和強度...