X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，在多個領域有著廣泛的應用。其基本原理是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出次級X射線，即X射線熒光。這些次級X射線具有特定的能量或波長特性，與元素的種類有關。因此，通過測量這些次級X射線的能量或波長，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。X射線熒光光譜儀的維護保養至關重要，以下是一些關鍵的維護保養措施：1、儀器清潔：定期使用無紡布或棉布擦拭儀器的外表面，以保持其干凈。在清潔過程中，禁止使用含有溶劑的清潔劑，以免損壞儀器...

在上一篇“MP工具箱”文章中，我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報告中的的參數都代表了哪些含義，那么如何判斷納米粒度儀測試結果的質量呢？本文將就此問題給出解答。在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結果前，我們要確保所測試的樣品濃度合適。對于大多數剛性納米粒子來說，在合適的濃度范圍內，粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態。還可以通過對countrate（測試光強）和attenuator（衰減器編號）等參數來考察...

本文摘要國家發改委于2005年發布了《工業用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業標準SH/T1612.8-2005。本文報告了使用馬爾文帕納科MS3000激光粒度儀按照標準方法對PTA樣品所進行的實驗過程，結果符合標準要求。對苯二甲酸PTA是重要的化工產品，主要用于生產聚酯和增塑劑。而粒度分布是其重要的產品指標。根據《工業用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業標準SH/T1612.8-2005。馬爾文帕納科MS300...

納米粒度電位儀是一種用于化學領域的分析儀器，主要用于測量納米級和亞微米級固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過動態光散射（DLS）等技術，該儀器能夠準確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布，同時測定顆粒表面的Zeta電位，從而了解顆粒的穩定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動態光散射原理，通過測量散射光的強度和波動來推算顆粒的粒徑大小和分布。當激光束照射到顆粒樣品上時，顆粒會散射光，散射光的強度與顆粒的大小和數量有關。通過分析散射光的波動情況，可以得到顆粒的粒徑分布信息...

納米粒度電位儀是一種高度專業化的分析儀器，廣泛應用于化學、生物學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術等多個學科領域。主要用于測量納米級和亞微米級顆粒的粒徑分布以及顆粒表面的Zeta電位。通過測量粒徑分布，可以了解顆粒的大小、形狀和分散性，這對于評估顆粒的穩定性和性能至關重要。而Zeta電位的測量則有助于了解顆粒表面的電荷性質，從而推斷顆粒之間的相互作用和分散穩定性。以下是納米粒度電位儀操作指南的具體內容：1、準備工作檢查電源與連接：確保儀器的電源線連接正常，避免因...