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用于晶體取向測量的SDCOM小型衍射儀 用于單晶（晶錠和晶圓）的材料研究、生產和質量控制的臺式XRD設備。 Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。

Wafer XRD Panalytical X射線技術 用于全自動晶圓揀選、生產和質量控制。

Omega/Theta Panalytical X射線技術 最高精度，最大靈活性

XRD 系列 晶圓和鑄錠快速準確的晶向定位 從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質量檢查,我們的晶向定位解決方案在設計時考慮到了晶棒、鑄錠、切片和晶圓的全部應用場景。此系列產品利用XRD分析技術在晶圓生產的全部流程中，提供簡單、快速、高精度的晶體定向測量，大大提高產品良率。

馬爾文帕納科工業X射線衍射儀符合X 射線和運動安全規范，且具有環保和可靠性能，其可靠性的增強及性能的改進提高了分析能力，提供一體化解決方案來滿足不同需求和應用。