本文摘要使用Zetasizer納米粒度電位儀進行預制備樣品電位測量時，樣品中產生的氣泡會顯著影響測量結果。本文將通過實際案例展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科的擴散屏障法[2]結合使用，來保障預制備樣品電位結果的數據質量和一致性。01丨前言提到氣泡，可能會聯想到游戲和有趣，但在科學測量領域，它們往往帶來更多的是辛苦和麻煩。使用納米粒度電位儀進行電位測量，通常情況下，當樣品制備好后立即進行電位測量時，氣泡很少會有影響。然而，當我們分析大批量樣品，需要高通量的方法，使用一些自動進...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質上時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結構密切相關，不同的晶體物質具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質的晶體結構信息。X射線衍射儀的技術特點主...

粉末衍射儀，特別是粉末X射線衍射儀，是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器，在材料科學、化學、物理等多個領域發揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產生的衍射線將在適當的方位聚焦而形成衍射強峰。這些被聚焦的衍射線所對應的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測角儀掃描過程中，聚焦圓的半徑會不斷改變，但在樣品一定深度范圍內總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...

激光粒度分布儀是一種用于測量和分析顆粒大小分布的精密儀器，主要利用激光技術進行粒度分析。其核心原理是激光散射技術。當激光束照射到顆粒樣品時，顆粒會對激光產生散射現象。散射光的強度、角度和偏振狀態與顆粒的大小、形狀、折射率等參數密切相關。根據米氏散射理論（MieTheory），當顆粒的直徑與激光波長相近或更大時，散射光的強度與顆粒的直徑呈一定的函數關系。因此，通過測量散射光的分布，可以計算出顆粒的粒度分布。激光粒度分布儀主要由以下幾個結構組成：1、光學系統激光器：通常為半導體激...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質上時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結構密切相關，不同的晶體物質具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質的晶體結構信息。X射線衍射儀在安裝前期的...