樣品對(duì)單道掃描型波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀影響

　　單道掃描型波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀從儀器的硬件與軟件在許多細(xì)節(jié)都進(jìn)行了改進(jìn)，使得儀器的可靠性與可操作性更進(jìn)一步提高，增加了微區(qū)分布成像分析功能，從而達(dá)到更高水平的程度。
　　儀器利用高次譜線進(jìn)行準(zhǔn)確的定性/定量分析，高次譜線的判定更加準(zhǔn)確，提高了定性定量分析的準(zhǔn)確度/可靠性。
　　利用單道掃描型波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀測(cè)定高分子薄膜的膜厚與無(wú)機(jī)成分分析的背景基本參數(shù)法；使用單道掃描型波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀進(jìn)行的膜厚測(cè)定、薄膜測(cè)定實(shí)例。
　　對(duì)應(yīng)于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品具有相應(yīng)的分析條件，在這基礎(chǔ)上可編制*的分析條件。可根據(jù)不同材質(zhì)判定、品種分類、品種判定、一致性檢索這4種匹配功能進(jìn)行判定、檢索。
　　如果對(duì)樣品不甚了解，請(qǐng)不要將未處理的樣品直接采用X熒光光譜分析，否則可能對(duì)你儀器造成致命的傷害。
　　例如樣品中含有揮發(fā)性酸，如鹽酸、醋酸（樣品夾雜測(cè)量中，樣品用酸處理，揮發(fā)不干凈）等，這些樣品一旦進(jìn)入儀器內(nèi)部在抽真空時(shí)，揮發(fā)到晶體、X光管、探測(cè)器等，都會(huì)都會(huì)造成致命的傷害；如果環(huán)境酸性物質(zhì)多，也同樣會(huì)造成儀器的損傷。
　　還有一個(gè)就是水分，樣品未經(jīng)過(guò)烘干處理，帶有水分進(jìn)入儀器，也會(huì)揮發(fā)，日積月累也會(huì)腐蝕儀器，如有些用戶，儀器沒(méi)使幾年，光管鈹窗破了；晶體潮解了；探測(cè)器窗口破了等問(wèn)題，其中有些就是用戶沒(méi)有注意樣品存在的危險(xiǎn)性，如爐渣中的硫化物，都能聞到刺鼻氣味，還壓片分析，豈不知對(duì)儀器的傷害有多嚴(yán)重。