馬爾文帕納科XRD系列講座—— 如何獲得高質(zhì)量粉末衍射數(shù)據(jù)？| 薄膜XRD表征 | X射線散射技術的結構分析

X-射線衍射技術是材料表征的重要手段。隨著材料研究的快速發(fā)展而產(chǎn)生的越來越多的表征要求和XRD技術的不斷進步，XRD分析的領域也得到了許多擴展。材料科學工作者可以使用XRD表征與材料晶體結構相關的一系列性質(zhì)，為材料研究提供大量的信息。為使馬爾文帕納科XRD用戶更好的了解XRD技術的多領域發(fā)展和有效的使用現(xiàn)有的XRD儀器進行材料表征研究。特此舉辦系列XRD技術發(fā)展網(wǎng)絡講座，邀請公司XRD應用專家陳京一老師進行宣講，陳老師將結合其近四十年寶貴的XRD工作經(jīng)驗為您介紹XRD在多個材料表征領域中的應用，趕快報名參加吧！

6月2日 14:00-15:30 高質(zhì)量粉末衍射數(shù)據(jù)的獲得和相變過程的原位表征

物相分析是粉末X-射線衍射廣泛和基礎的應用。獲得高質(zhì)量的粉末衍射數(shù)據(jù)是得到準確物相鑒定和定量分析的重要的因素。同時進行結構精修和從粉末衍射數(shù)據(jù)進行晶體結構解析也依賴于粉末衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。本次講座將介紹從光學結構的改進等方面來獲得高質(zhì)量粉末衍射數(shù)據(jù)的方法。同時，還將介紹使用變溫，變壓等附件研究相變過程的動態(tài)原位表征方法。

6月4日 14:00-15:30  多晶，非晶薄膜的XRD表征

薄膜（涂層）技術是新材料發(fā)展的一個重要領域。而XRD是這一類材料表征的重要手段。使用XRD我們除了可以測量薄膜的物相外，還可以測量薄膜的多個其它性質(zhì)（如厚度，界面等）從而表征薄膜的質(zhì)量。本次講座的內(nèi)容為使用XRD進行薄膜（涂層）分析的各種技術及其應用。

6月11日 14:00-15:30 X射線散射技術的結構分析

隨著新材料研究的深入，對其結構表征的需求也在不斷的發(fā)展，例如納米結構的表征，非晶態(tài)的研究，材料中原子間作用的變化都是研究者感興趣的領域。而上述的研究經(jīng)常需要前往同步輻射中心和線站進行。本次講座將介紹使用您現(xiàn)有的實驗室XRD并配有一定的附件就可以進行這些領域的研究。

講師介紹

陳京一先生，馬爾文帕納科XRD應用專家，中國科技大學學士，中國科學院上海冶金研究所（現(xiàn)微系統(tǒng)研究所）碩士，一直從事XRD方法研究和應用支持工作，具有近40年XRD分析及應用研究行業(yè)經(jīng)驗。

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