馬爾文帕納科XRD系列講座—— 如何獲得高質量粉末衍射數據？| 薄膜XRD表征 | X射線散射技術的結構分析

X-射線衍射技術是材料表征的重要手段。隨著材料研究的快速發展而產生的越來越多的表征要求和XRD技術的不斷進步，XRD分析的領域也得到了許多擴展。材料科學工作者可以使用XRD表征與材料晶體結構相關的一系列性質，為材料研究提供大量的信息。為使馬爾文帕納科XRD用戶更好的了解XRD技術的多領域發展和有效的使用現有的XRD儀器進行材料表征研究。特此舉辦系列XRD技術發展網絡講座，邀請公司XRD應用專家陳京一老師進行宣講，陳老師將結合其近四十年寶貴的XRD工作經驗為您介紹XRD在多個材料表征領域中的應用，趕快報名參加吧！

6月2日 14:00-15:30 高質量粉末衍射數據的獲得和相變過程的原位表征

物相分析是粉末X-射線衍射廣泛和基礎的應用。獲得高質量的粉末衍射數據是得到準確物相鑒定和定量分析的重要的因素。同時進行結構精修和從粉末衍射數據進行晶體結構解析也依賴于粉末衍射數據的質量。本次講座將介紹從光學結構的改進等方面來獲得高質量粉末衍射數據的方法。同時，還將介紹使用變溫，變壓等附件研究相變過程的動態原位表征方法。

6月4日 14:00-15:30  多晶，非晶薄膜的XRD表征

薄膜（涂層）技術是新材料發展的一個重要領域。而XRD是這一類材料表征的重要手段。使用XRD我們除了可以測量薄膜的物相外，還可以測量薄膜的多個其它性質（如厚度，界面等）從而表征薄膜的質量。本次講座的內容為使用XRD進行薄膜（涂層）分析的各種技術及其應用。

6月11日 14:00-15:30 X射線散射技術的結構分析

隨著新材料研究的深入，對其結構表征的需求也在不斷的發展，例如納米結構的表征，非晶態的研究，材料中原子間作用的變化都是研究者感興趣的領域。而上述的研究經常需要前往同步輻射中心和線站進行。本次講座將介紹使用您現有的實驗室XRD并配有一定的附件就可以進行這些領域的研究。

講師介紹

陳京一先生，馬爾文帕納科XRD應用專家，中國科技大學學士，中國科學院上海冶金研究所（現微系統研究所）碩士，一直從事XRD方法研究和應用支持工作，具有近40年XRD分析及應用研究行業經驗。

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