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      高分辨衍射儀有哪些技術特點

      更新時間:2020-06-23       點擊次數:2323

      高分辯衍射儀儀器簡介:
      X'Pert PRO MRD/XL是高級半導體材料的標準裝備,用于: 高級材料科學和納米技術,半導體材料研究和生產質量控制,可以適用各種應用,尤其適合薄膜分析,例如: 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping, 反射率和薄膜相分析,殘余應力和織構分析, X'Pert PRO MRD/ XL 高分辯衍射儀滿足半導體、LED、薄膜和高級工業材料的所有高分辨XRD分析需要。XL可以滿足直徑達 300 mm的晶片分析,并有精密的自動晶片裝載選擇;XL成為薄膜生產發展的的分析手段,LED的業界標準。

      X射線衍射儀技術分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。  

      高分辨衍射儀的主要特點:
      ●硬件系統和軟件系統的結合,滿足不同應用領域學者、科研者的需要;
      ●高精度的衍射角度測量系統,獲取更準確的測量結果;
      ●高穩定性的X射線發生器控制系統,得到更穩定的重復測量精度;
      ●程序化探作、一體化結構設計,操作簡便、儀器外型更美觀。
        


       
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