x射線粉末衍射儀的基本原理

    X射線粉末衍射儀是利用X射線衍射法對(duì)物質(zhì)進(jìn)行非破壞性分析的儀器,由X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、X射線強(qiáng)度測(cè)量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)四大部分組成。研究晶體材料，X射線衍射方法非常理想非常有效，而對(duì)于液體和非晶態(tài)物固體，這種方法也能提供許多基本的重要數(shù)據(jù)。所以X射線衍射法被認(rèn)為是研究固體有效的工具。在各種衍射實(shí)驗(yàn)方法中，基本方法有單晶法、多晶法和雙晶法。
X射線粉末衍射儀的基本原理
  X射線粉末衍射儀用途 
  1，判斷物質(zhì)是否為晶體。
  2，判斷是何種晶體物質(zhì)。
  3，判斷物質(zhì)的晶型。
  4，計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。
  5，定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例。
  6，計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。
  7，和其他專(zhuān)業(yè)相結(jié)合會(huì)有更廣泛的用途。
比如可以通過(guò)晶體結(jié)構(gòu)來(lái)判斷物質(zhì)變形，變性，反應(yīng)程度等