近日，第十八屆藥機展（PMEC2025）在上海新國際博覽中心落下帷幕，馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會所展示的顆粒、粉體等先進表征技術備受業內人士關注。稍顯遺憾的是很多行業客戶沒有辦法到現場參觀交流，且由于展位面積有限，更多產品和方案沒有辦法現場展示。為了讓大家更多地了解馬爾文帕納科和麥克應用于醫藥行業的產品和解決方案，本文將整理摘錄完整的醫藥行業方案，并在文中附上馬爾文帕納科和麥克默瑞提克制藥行業產品手冊，您可點擊下載了解詳情。儀器設備和檢測技術貫穿醫藥產業鏈的研發、生...

針對半導體行業，馬爾文帕納科最新推出的高速晶向定位系列解決方案，可實現從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質量檢查，覆蓋從晶棒-鑄錠-切片和晶圓制程的全部應用。利用XRD分析技術在晶圓生產的全部流程中，提供簡單、快速、高精度的晶體定向測量，大大提高產品良率。小巧多工的DDCOM和SDCOM系列能夠在不影響精度的情況下高速完成測量，Omega/ThetaXRD系列在晶格測定方面可提供超高的測量精度和速度，WaferXRD系列利用晶圓端控制的高級分揀選項提供高通量篩選，XRD-OE...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術的高精度物理性能測試儀器，主要用于測量納米顆粒的粒徑、濃度及Zeta電位等多參數信息。該儀器通過激光照射納米顆粒懸浮液，利用高分辨率顯微鏡捕捉顆粒的布朗運動軌跡，并結合專用軟件分析粒徑分布。其核心在于通過追蹤單個顆粒的隨機運動，結合斯托克斯-愛因斯坦方程，推算出顆粒的流體力學半徑，實現高精度測量。部分儀器還集成了微電泳技術，可同步測定Zeta電位，反映顆粒表面電荷特性。為確保測量結果的準確性和可靠性，納米顆粒跟蹤分析儀...

本文摘要SiC端面傾角度數會影響晶體生長動力學、界面特性和器件的電場分布，決定了SiC功率器件的性能，傾角控制精度已從“工藝參數”升級為“核心競爭力”，本文將介紹4°傾角及其方向的重要性，以及馬爾文帕納科高精度晶向定位儀Omega/theta如何幫助SiC襯底量產保持高的傾角控制技術。01丨碳化硅的生長模式無論是PVT還是HTCVD生長碳化硅單晶，都涉及到了氣固相變。所以，這個生長具有三種模式：島狀生長（Volmer-Weber，VW）、層狀生長（Frankvander-Me...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質上時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結構密切相關，不同的晶體物質具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質的晶體結構信息。以下是X射線衍射儀的安裝...