納米粒度電位儀是一種用于測(cè)量納米及亞微米級(jí)顆粒粒徑、Zeta電位等參數(shù)的分析儀器，在化學(xué)、材料科學(xué)、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。該儀器主要基于動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）和靜態(tài)光散射（SLS）技術(shù)工作。動(dòng)態(tài)光散射通過(guò)檢測(cè)顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度計(jì)算粒徑分布；電泳光散射測(cè)量顆粒在外加電場(chǎng)中的遷移率，轉(zhuǎn)化為Zeta電位值；靜態(tài)光散射則利用散射光強(qiáng)直接測(cè)定高分子物質(zhì)的絕對(duì)分子量及第二維利系數(shù)。其粒徑檢測(cè)范圍通常覆蓋0.3 nm至10μm，支持低至12μL的微量樣品檢測(cè)，并具備自動(dòng)化程序控溫功能。
1、測(cè)量問(wèn)題
測(cè)量不穩(wěn)定或無(wú)法測(cè)量
原因：樣品濃度過(guò)高或過(guò)低、設(shè)置不正確、樣品準(zhǔn)備不充分等。
解決方法：確保樣品濃度在推薦范圍內(nèi)，可通過(guò)稀釋或濃縮調(diào)整；檢查測(cè)量模式、電極間距等設(shè)置是否符合樣品要求；保證樣品充分分散，避免顆粒團(tuán)聚。
粒徑分布偏大
原因：樣品團(tuán)聚，分散不好。
解決方法：延長(zhǎng)超聲時(shí)間或加入合適分散劑幫助分散。
Zeta電位與文獻(xiàn)差別大
原因：測(cè)試分散劑種類、pH等與文獻(xiàn)不一致。
解決方法：查看并調(diào)整測(cè)試條件，使其與文獻(xiàn)保持一致。
2、儀器部件問(wèn)題
電極污染或損壞
原因：電極污染或損壞會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差或不穩(wěn)定。
解決方法：定期清潔電極，使用適當(dāng)清潔劑并按制造商說(shuō)明操作；若電極損壞，及時(shí)更換新電極。
溫度控制問(wèn)題
原因：Zeta電位測(cè)量對(duì)溫度敏感，溫度不穩(wěn)定會(huì)影響結(jié)果。
解決方法：確保環(huán)境溫度穩(wěn)定，使用恒溫設(shè)備控制樣品溫度，或操作前讓儀器和樣品達(dá)到平衡溫度。
3、軟件及電源問(wèn)題
軟件問(wèn)題
原因：軟件故障或設(shè)置錯(cuò)誤導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。
解決方法：更新或重新安裝控制軟件，檢查設(shè)置是否正確，確保軟件版本與儀器硬件兼容。若問(wèn)題持續(xù)，聯(lián)系技術(shù)支持。
電源問(wèn)題
原因：電源不穩(wěn)定或連接不良使儀器無(wú)法正常工作。
解決方法：檢查電源線和插頭，確保連接牢固，使用穩(wěn)定電源。若電源問(wèn)題無(wú)法解決，可考慮更換電源線或使用不同電源插座。
4、其他問(wèn)題
樣品不均勻
原因：樣品中顆粒分布不均勻會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差。
解決方法：測(cè)量前充分?jǐn)嚢铇悠罚_保顆粒分散均勻，也可使用超聲波處理改善樣品均勻性。
設(shè)備卡住或圖像模糊（針對(duì)部分帶有成像功能的納米粒度電位儀）
原因：可能是設(shè)備運(yùn)行故障或鏡頭污染等。
解決方法：嘗試重新啟動(dòng)設(shè)備或重新插拔連接線；清潔鏡頭。
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