【設備更新系列】納米顆粒跟蹤分析儀（NTA）

納米顆粒跟蹤分析儀（NTA）通過實時追送納米顆粒的布朗運動來獲取顆粒的大小和濃度信息。作為納米顆粒跟蹤分析技術（NTA）的發(fā)明者，馬爾文帕納科的NanoSight憑借在納米顆粒表征領域20余年的發(fā)展和創(chuàng)新，技術平臺不僅獲得了廣大用戶的認可和支持，也拓展了NTA廣泛的應用范圍，如脂質(zhì)納米顆粒，細胞外囊泡，病毒和疫苗研究，納米氣泡和納米藥物載體研究等。這一點已經(jīng)得到了數(shù)萬篇科學論文的驗證和大量國內(nèi)外藥物研發(fā)企業(yè)的認同，確認了這種技術在研發(fā)領域的重要地位和價值。

NanoSight Pro納米顆粒跟蹤分析儀

結合專用熒光測試模塊，可用于多種熒光應用，驗證和識別細胞外囊泡及其亞群。并可用于對具不同標志物的樣品進行驗證，從而更好的理解樣品的異質(zhì)性。

馬爾文帕納科近年新發(fā)布的納米顆粒跟蹤分析儀在上一代產(chǎn)品的基礎上做了多項軟件、硬件上的改進。全新一代的NanoSight Pro具備高靈敏度科研級sCMOS傳感器和20倍的高分辨率物鏡，即使是散射光較弱的顆粒，也能輕松捕獲其實時運動軌跡。在軟件方面，NTA儀器需要有強大的算法支持，以實現(xiàn)對視野內(nèi)多個顆粒運動的實時追蹤和軌跡標記，從而準確判斷與區(qū)分真實顆粒、噪音、背景及多核心的顆粒聚集體。NanoSight Pro的NS Xplorer由機器學習的神經(jīng)網(wǎng)絡算法提供算力支持，可以實現(xiàn)自動聚焦與測量，消除主觀性影響，并為光散射和熒光分析提供高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。

熒光樣品的分析，研究者經(jīng)常遇到的問題包括：熒光信號弱、光漂?(淬滅）、染料過量以及復雜體系中的熒光顆粒干擾等。結合硬件升級，NanoSight Pro開發(fā)了全新的熒光樣品測試模塊，可以對熒光顆粒樣品進?智能顆粒檢測、背景扣除等。同時，在NS Xplorer軟件中整合了專?的熒光測試模塊，這?模塊包括散射光和熒光測試的協(xié)同?作，在測試中同時給出散射光與熒光測試結果，并直接給出熒光顆粒的占???需?為計算。為解決熒光樣品淬滅現(xiàn)象的影響，該模塊會根據(jù)需要?動開閉激光器。通過10次的重復過程，不僅得到了統(tǒng)計學上有意義熒光數(shù)據(jù)信息，還很好的避免了熒光樣品信號被過早激發(fā)。

感興趣的客戶可以關注馬爾文帕納科公眾號獲取樣本了解更多技術細節(jié)。為響應教育部設備更新政策，馬爾文帕納科提供線下體驗NanoSight Pro新機的機會，我們將帶著全新的NS Pro走進您的實驗室，讓您現(xiàn)場體驗新產(chǎn)品的智能、便捷與性能的提升。